Паяльные микроскопы

Стереоувеличитель MANTIS Elite (art. МEH-001+МES-005) на универсальном штативе.

Стандартное увеличение 20X/40X, Стандартное фокусное расстояние 100mm

Новая модель стереомикроскопа c трансфокатором: плавно изменяемая кратность увеличения 6,7X..50X (диаметр поля зрения сужается от 34 мм до 4,6 мм) при постоянном рабочем расстоянии 108 мм. Для снижения кратности еще вдвое (3,35X .. 25X), расширения поля зрения по максимуму до 68 мм и увеличения рабочего расстояния до 240 мм

Квадратный предметный столик 114x114мм c плавным перемещением в плоскости (до 25мм по каждой из координат) в комплекте с двумя микрометрами японского производства. Исключительно точное позиционирование объекта.

Стереоувеличитель MANTIS Compact (МCH-001+МCS-005) на универсальном штативе

Антистатический настольный агрегат для прецизионной (не хуже 10мкм) ручной установки микросхем с ультрамалым шагом fine pitch и всех видов BGA размером до 40x40мм, конструктивно совместимый со станциями ERSA IR550Aplus. Двухцветная подсветка, цветная CCD-видеокамера (72x) с бестеневой кольцевой подсветкой (управляется от клавиатуры); прецизионный держатель плат с плавным перемещением. Подвижная вторая видеокамера RPC используется для визуального контроля процесса оплавления в реальном времени со станциями IR550Aplus. Дополнительно необходим монитор (автономный с видеовходом PAL или в составе компьютера с фреймграббером)

Измерительный фокусируемый окуляр кратностью 10x с линейной шкалой 100 единиц в 5 мм (10 делений с подписями цифр и 10 промежуточных делений)

Эпископический осветитель (MEI-001) для Mantis Elite с блоком питания

Штатив настольный Mantis ErgoStereo Lite/Max

Защитное стекло на объектив стереомикроскопа (от брызг флюса или ударов)

Сменные окуляры (20X) для увеличения кратности оптической системы вдвое - для модели SOLO 0750

Штатив шарнирный для Mantis Elite (рабочее расстояние до 697 мм)

Калибровочная шкала 10мм/100, диаметром 25 мм, служащая для установления соответствия между абсолютными и относительными (экранными) единицами длины при измерении линейных величин с помощью стереомикроскопа и ПО